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ini脚本批量执行I2C，部分寄存器写入失败？
半导体Sensor封测｜I2C/I3C通讯｜I2C通讯故障｜故障排查
① ini格式书写错误，寄存器地址、数据字节模式与Sensor规格不匹配；
② 部分寄存器操作中间需要延时，脚本缺少延时指令；
③ 硬件I2C通讯不稳定，可开启Loop循环重复读写验证。
I2C写寄存器返回OK，但读回来数值不一致？
半导体Sensor封测｜I2C/I3C通讯｜I2C通讯故障｜故障排查
① 该寄存器是只读寄存器，不支持写操作；
② Sensor内部会自动改写寄存器值（如曝光、状态类寄存器），属于芯片本身行为；
③ I2C时序模式配置错误。
I2C能搜索到地址，但读寄存器全部读出0xFF？
半导体Sensor封测｜I2C/I3C通讯｜I2C通讯故障｜故障排查
① I2C模式选择错误（8位地址/16位寄存器地址模式不匹配）；
② Sensor未完成复位初始化，寄存器没有上电；
③ 硬件SDA/SCL信号干扰，波形畸变。
同一个测试盒，部分PIN无法做OS测试？
半导体Sensor封测｜OS测试异常｜故障排查
① 不同型号测试盒OS测试PIN数量上限固定：UF920为45PIN、MU960为33PIN、GQ4为29PIN，超出管脚数量无法执行；
② 电源管脚与GPIO管脚测试电流档位不同：电源管脚0.1mA-20mA，GPIO管脚0.1mA-2mA，参数不要混用；测试电压UF920/MU950为0-3V，G系列为0-2V。
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